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半導(dǎo)體/PCB

優(yōu)化測試單元產(chǎn)能:Multitest的MT2168充分利用先進(jìn)測試儀性能

激光制造商情 來源:廣東星之球2011-08-08 我要評論(0 )   

2011 年 6 月 ---- 面向集成設(shè)備制造商( IDM )和最終測試分包商,設(shè)計和制造測試分選機(jī)、測試座、測試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商 Multitest 公司,日前欣然宣布其 MT2168 的設(shè)...

20116----面向集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測試分包商,設(shè)計和制造測試分選機(jī)、測試座、測試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前欣然宣布其MT2168的設(shè)計旨在實現(xiàn)最佳測試儀利用率。短Index時間(DUT交換時間)、快速上料與分類以及超大器件預(yù)熱能力均支持分選機(jī)與新一代測試儀保持同步。

 


 

理想情況下,如果分選機(jī)沒有局限性,增強(qiáng)的測試儀性能從兩方面優(yōu)化了測試單元產(chǎn)能:它們得益于更短測試時間和更高測試并行性的應(yīng)用。

目前很多先進(jìn)的分選機(jī)不能支持增強(qiáng)的測試儀性能,即使它們擁有多個相應(yīng)的測試位亦是如此。因此,潛在的產(chǎn)能優(yōu)勢受到最高分選機(jī)產(chǎn)能的限制。最高分選機(jī)產(chǎn)能取決于上料、預(yù)熱和分類速度。

增加測試位的數(shù)量(并行性)將直接與能夠同時測試更多器件的增強(qiáng)的測試儀能力相呼應(yīng)。只有在未達(dá)到分選機(jī)的上料和分類能力上限的情況下,才能增加并行性。否則,這將被更長的上料和分類時間抵消。在任何情況下,分選速度均需改善,以便受益于更短測試時間。對于所需的預(yù)熱能力來說亦是如此,目的是為了充分利用更高并行性和更短測試時間的優(yōu)勢。

MT2168的設(shè)計旨在充分利用測試儀的性能。該新一代測試分選機(jī)不僅針對單個參數(shù)(并行性和速度)進(jìn)行優(yōu)化,其內(nèi)部的測試位數(shù)量、上料、預(yù)熱及分類能力等方面也得到同步改善。

Multitest (總部位于德國羅森漢姆)是面向半導(dǎo)體廠商提供測試分選設(shè)備的世界領(lǐng)導(dǎo)制造商之一。Multitest銷售測試分選機(jī)、測試座和ATE印刷電路板。公司在全球擁有700多名員工,在北美、新加坡、馬來西亞、菲律賓、中國大陸、臺灣地區(qū)、泰國設(shè)有辦公室和分支機(jī)構(gòu),為世界各地的客戶提供服務(wù)。#p#分頁標(biāo)題#e# 

 

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