PConline 資訊]據(jù)外媒報道稱，東北大學（Tohoku University）的研究人員近日開發(fā)出一種利用空心球來測量大型半導體晶體的電子和光學特性的技術。根據(jù)東北大學研究人員的說法，他們的方法改進了現(xiàn)有的光致發(fā)光光譜技術，可以為大規(guī)模生產(chǎn)者和電力設備的消費者帶來節(jié)能。

據(jù)介紹，半導體晶體用于制造電子器件，如微處理器芯片和晶體管。制造商需要能夠檢測晶體缺陷并測試其能量轉(zhuǎn)換效率其中一種方法是測量它們的“內(nèi)部量子效率”，即它們從被電流或激發(fā)激光激發(fā)的電子中產(chǎn)生光子的能力。目前可用的方法都限制了可以一次測試的樣本量。

東北大學的先進材料科學家Kazunobu Kojima及其同事設計了一種改進的光致發(fā)光光譜方法，可以測試更大的樣品。

當激發(fā)激光照射在半導體晶體上時，標準光致發(fā)光光譜檢測半導體晶體發(fā)出的光的相對量。光能通過這些激發(fā)和發(fā)射過程而消失，因此科學家們一直在試驗光致發(fā)光光譜，它使用“積分球”來最小化光子（光的基本粒子）的損失。

積分球收集激發(fā)光和從其內(nèi)部的樣品發(fā)出的光，其中光在內(nèi)部漫反射直到它變得均勻分散。光的均勻分布提高了內(nèi)部量子效率測試的準確性和可重復性。但這意味著被測晶體的尺寸最終受到球體尺寸的限制。

Kojima及其同事發(fā)現(xiàn)，當晶體直接放置在球體外時，它們?nèi)匀豢梢詼y試晶體的內(nèi)部量子效率，從而允許使用更大的樣品。他們對稱為氮化鎵的半導體晶體進行了測試，這種晶體通常用于LED，由于其優(yōu)越的性能，將用于電子器件。

Kojima說：“這種'omnidirectional photoluminescence'光譜儀可用于評估大尺寸晶體或半導體晶圓的質(zhì)量，這對于功率器件的大規(guī)模生產(chǎn)至關重要，可以帶來節(jié)能并降低生產(chǎn)成本。”

via：Newelectronics PConline編譯作者：栗子