閱讀 | 訂閱
閱讀 | 訂閱
紫外激光器

極紫外光源光刻技術離我們還有多遠?

星之球科技 來源:光電信息簡報2013-06-12 我要評論(0 )   

極紫外(EUV)光源可以為晶圓生產(chǎn)提供幾十瓦功率是一個重要的里程碑,預計今年稍晚些時候可以開始大批量供貨。但對于大規(guī)模生產(chǎn)芯片,其性能還存在嚴峻的挑戰(zhàn)。 回顧半導...

       極紫外(EUV)光源可以為晶圓生產(chǎn)提供幾十瓦功率是一個重要的里程碑,預計今年稍晚些時候可以開始大批量供貨。但對于大規(guī)模生產(chǎn)芯片,其性能還存在嚴峻的挑戰(zhàn)。

 

  回顧半導體光刻歷史,248nm的KrF激光器光源代替了汞燈,隨后又開發(fā)了幾何尺寸更小的193nm ArF激光器,到2003年,EUV光源開始占據(jù)半導體發(fā)展路線圖,如今十幾年過去了,EUV還沒有達到實際生產(chǎn)的要求。但是,極紫外光源將在今后很長一段時間掌控半導體光刻的未來。EUV光源遠比我們想象的具有技術挑戰(zhàn)性,致使半導體光刻技術路線圖一直修改拖延,但值得肯定的是,2011年以來,隨著ASML建立完整的EUV光刻系統(tǒng),加速了EUV發(fā)展。

 

  ASML將在EUV光源方面投資更多,包括收購主要光源供應商Cymer,在SPIE 先進光刻會議2013上,Cymer報道了13.5nm波段EUV光源平均輸出功率達到40~55W,并且基于這種技術開發(fā)出了新一代光源。但是輸出功率還沒有達到商業(yè)生產(chǎn)芯片的水平。

 

  光刻技術及其要求

   光刻技術在電子學十幾年的進展中至關重要,光源曝光涂在芯片表面的光刻膠,曝光部分被刪除,根據(jù)定義的特征刻蝕表面,然后再其他層重復此過程建立集成電路。特征尺寸取決于光源波長、聚焦光學元件和光刻膠。

 

  光刻光源被集成在光刻機或系統(tǒng)中,包括照明圖案掩模的光學系統(tǒng)和將反射光照在光刻膠表面的光學元件。系統(tǒng)是非常巨大、復雜、昂貴的,經(jīng)濟學要求光源發(fā)射足夠多的光曝光達到100晶圓/小時。

  

  EUV光源

   EUV發(fā)射的錫等離子體是由二氧化碳激光器輸出脈沖轟擊熔融錫滴產(chǎn)生的。Cymer和日本Gigaphoton公司采用的激光器技術,Xtreme技術公司采用激光束直接放電激勵。

 

  Cymer已經(jīng)生產(chǎn)了10臺3100EUV光源樣機,Q開關CO2主振蕩器/功率放大器(MOPA),三級放大,工作重復頻率40~50kHz,每一個脈沖轟擊單個錫滴,激光器的平均功率是15kW,去年就實現(xiàn)EUV平均輸出11W功率到光刻膠上,每小時曝光7片晶圓。

 

        在今年的SPIE先進光刻會議上,Cymer報道通過將CO2激光器增加四級放大,在主脈沖之前增加預脈沖照射錫滴,使EUV光刻機光源輸出功率達到了40~55W。這一功率在長期照射過程中維持了一段時間,這種預脈沖技術使得錫滴的尺寸由30μm放大到100μm,如圖6所示。

 

  即將出產(chǎn)的新型光源NXE3300增加了收集鏡的尺寸,可以將EUV輸出功率提高到70~75W,在Cymer制定的技術路線圖中,包括兩個版本的高功率光源,一個是31kW的CO2激光器泵浦輸出125W,另外一個是43kW激光器泵浦輸出250W功率。

 

  在2013 SPIE會議上,Gigaphoton報道了其開發(fā)的EUV光源平均輸出功率達到了10W,最大峰值功率達到20W。

 

  光學元件及其他主要問題

   工作在EUV波段會引起光學元件和功率傳輸?shù)暮芏鄦栴},錫等離子體是向各個方向散射的,收集鏡只能管理朝光刻系統(tǒng)方向散射的光,因此透射性光學元件不能用于EUV光刻系統(tǒng),所以光刻光源必須使用多層反射膜鏡面。目前EUV光學元件已經(jīng)相當成熟,鏡面反射率接近于理論最大值入射光的70%,然而,橢圓形的收集鏡的損耗是最大的,同時還必須保持濺射錫的清潔度。

 

  損耗包括EUV光源照射掩模以及將掩模圖形投影到光刻膠上所需的光學元件,系統(tǒng)如圖6所示,使用10面鏡子,如果每面鏡子反射70%的入射光,只有2.8%的原始功率剩余下來,而且這還沒有計算收集鏡、掩模的反射損耗、光刻膠沒有吸收光的損耗。這些損耗致使傳送到晶圓表面的EUV平均功率達不到每小時生產(chǎn) 100片以上晶圓的生產(chǎn)要求。

 

  EUV還引發(fā)了一些其他技術問題,如其光子能量是193nm處的十倍以上,必須采用新型光刻膠,能量光子釋放的電子才能在材料中散開。隨著芯片尺寸的縮小,缺陷成為日益嚴重的問題。

 

其他光刻技術

 

  EUV光刻技術的主要競爭者是193nm侵入式光刻系統(tǒng),對此,大型公司都是保持雙向選擇,既延續(xù)193nm技術又探索EUV新技術。

 

  另外一種候補光刻技術是定向自組裝,利用193nm光源產(chǎn)生模板引導小型建筑模塊自動組裝為半導體結構,在過去的幾年里,這種技術已經(jīng)取得了巨大的進步,這是繁殖193nm侵入式光刻技術的一種方式,當然要實現(xiàn)這種技術還需要很長一段時間,但其作為光刻技術的候補技術有很大的吸引力。

 

  然而,這種定向自組裝技術與EUV光源不存在競爭關系,它只是傳統(tǒng)光刻膠的替代品,而不能替代整套設備,它可以使用EUV光源或者193nm光源,從底部向上為自組裝結構提供從上到下控制。

 

  展望未來

   目前存在的問題使得光刻技術的未來變得復雜,半導體行業(yè)的不同部門又有著不同需求使得問題更加復雜化。其實最渴望EUV技術問世的是代工廠,他們不能控制其制造芯片的設計,因此單次曝光的EUV制造技術比多次曝光的193nm光刻技術就更有吸引力。

 

  目前真正的重大突破應該是技術已經(jīng)從實驗室階段步入生產(chǎn)車間,工程師將使用最新工具開發(fā)新工藝,并測試如何生產(chǎn)下一代芯片。

 

轉(zhuǎn)載請注明出處。

暫無關鍵詞
免責聲明

① 凡本網(wǎng)未注明其他出處的作品,版權均屬于激光制造網(wǎng),未經(jīng)本網(wǎng)授權不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用。獲本網(wǎng)授權使用作品的,應在授權范圍內(nèi)使 用,并注明"來源:激光制造網(wǎng)”。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關責任。
② 凡本網(wǎng)注明其他來源的作品及圖片,均轉(zhuǎn)載自其它媒體,轉(zhuǎn)載目的在于傳遞更多信息,并不代表本媒贊同其觀點和對其真實性負責,版權歸原作者所有,如有侵權請聯(lián)系我們刪除。
③ 任何單位或個人認為本網(wǎng)內(nèi)容可能涉嫌侵犯其合法權益,請及時向本網(wǎng)提出書面權利通知,并提供身份證明、權屬證明、具體鏈接(URL)及詳細侵權情況證明。本網(wǎng)在收到上述法律文件后,將會依法盡快移除相關涉嫌侵權的內(nèi)容。

網(wǎng)友點評
0相關評論
精彩導讀