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半導體/PCB

羅芬為半導體wafer Fab前道工序(Front-end-of-line FEOL)提供整體交鑰匙解決方案

星之球激光 來源:羅芬2013-07-25 我要評論(0 )   

羅芬激光,世界領先的工業(yè)激光器和激光系統(tǒng)制造商推出前道工序(FEOL)處理交鑰匙解決方案,進入半導體市場。新的激光晶圓處理系統(tǒng)Waferlase200/300/450,是一個全自動...

   羅芬激光,世界領先的工業(yè)激光器和激光系統(tǒng)制造商推出前道工序(FEOL)處理交鑰匙解決方案,進入半導體市場。新的激光晶圓處理系統(tǒng)Waferlase®200/300/450,是一個全自動的模塊化平臺,包含市場領先的(超)薄半導體晶片傳送系統(tǒng),以及可以根據(jù)應用的類型選擇激光處理模組。Waferlase®200/300/450(8”/12”/18”wafer size)產(chǎn)品系列從提供IGBT晶圓激光退火和激光晶圓ID 軟打標方案開始。

  領先的超薄晶片自動化傳送技術

  羅芬集成了上接觸晶圓傳送技術,即使晶片有較大的翹曲和彎曲,也能提供精確的無接觸式超薄晶圓傳輸。為開放式標準晶舟或FOUP晶片承載系統(tǒng),配有兩個或多個標準盒端口。集成的掃描頭,檢測晶片在晶舟的精確位置。全面而易于使用的系統(tǒng)軟件控制晶舟slot的分配,晶片彎曲測量,晶片位置以及ID檢測,甚至由于萬一晶圓損壞處理而會自動改變晶片拾取和放置的順序,例如由于大面積的或相鄰晶圓的相反方向的彎曲。一個高端的雙臂機器人負責裝卸晶片。前置校準器(對邊器)對wafer中心和邊緣排列晶片。末端受動器和前置校準器之間的“真空握手”區(qū)域,包含的硅片保護裝置,以確保其背面無損傷傳送。因此,羅芬Waferlase®200/300/450將高端的技術和先進的控制軟件集成其中,在幾乎可以忽略不計的硅片破損率下確保最大生產(chǎn)量.

  IGBT 晶圓激光退火

  由于IGBT相比與其他晶體管器件相比有顯著的優(yōu)勢,如高電壓能力,導通電阻低,易于驅(qū)動,開關速度快,耐用性等,絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)的市場正在不斷增長。

  這個市場增長的關鍵因素之一,是由于在汽車和工業(yè)應用領域,包括可再生能源,通訊,醫(yī)療,照明和交通運輸?shù)男枨蟠蠓黾印?/p>

  IGBT是在一個標準的厚度為100微米或更小的機械化變薄的晶片上制造出來的。為了在晶片的背面形成場闌和/或發(fā)射極層,深層注入的摻雜元素(如磷或硼),必須高溫退火的過程中被激活,直到FEOL的最后處理產(chǎn)線。很多時候,硅片正面的敏感裝置是粘膠帶保護的。由于膠帶的損傷溫度低,正面裝置的熱感應器,以及在處理腔中不均勻的熱分布,使常規(guī)烤箱激活水平低和速度慢。羅芬激光退火工藝已經(jīng)能夠克服這些問題,工藝穩(wěn)定性明顯更高,并且生產(chǎn)成本低,晶片質(zhì)量優(yōu)。激光退火能夠深層激活摻雜物,同時防止損壞晶片的正面和保護帶。激光允許在最多2微米范圍內(nèi),為場闌和/或發(fā)射極層的激活的精準深度控制。 羅芬IGBT激光退火方法激活率超過90%,遠遠優(yōu)于傳統(tǒng)的方式。

 

  硅片打標

  羅芬Waferlase®200/300/450系統(tǒng)可在透明,半透明,不透明的晶圓材料上打上可追蹤ID標記。有兩種方法 – 激光硬打標和軟打標 - 這是根據(jù)打標的處理方式,深度和位置的不同所決定的。在潔凈室環(huán)境中的激光軟打標,可由硅晶片表面的熔化實現(xiàn)。

  羅芬正在申請的專利新技術,使用戶可以精確的控制打標深度從小于1微米到7微米不等。激光軟打標過程使用一個特制的IC打標激光源,其波長為532 nm。這種專用的解決方案,實現(xiàn)了高對比度,對標記小字符具有優(yōu)異的表現(xiàn)。

 

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