1　概述

　　近年來，LED照明技術(shù)快速發(fā)展，在LED的光效、色溫、顯色性等光色指標(biāo)備受關(guān)注的同時，LED的熱學(xué)特性和壽命也越來越受到人們的重視，特別是熱學(xué)特性，對LED光色電的性能和壽命有著顯著的影響。然而，對熱學(xué)特性和壽命的檢測具有挑戰(zhàn)性。

　　LED的熱學(xué)特性主要包括LED結(jié)溫、熱阻、瞬態(tài)變化曲線（加熱曲線、冷卻曲線）等。結(jié)溫是指LED的PN結(jié)溫度，熱阻是指LED散熱通道上的溫度差與該通道上的耗散功率之比，用于表征LED的散熱能力，研究表明，LED的熱阻越低其散熱性能越好，相應(yīng)的LED光效一般也越高，壽命越長。檢測熱學(xué)特性的關(guān)鍵在于對LED結(jié)溫的準(zhǔn)確測量，現(xiàn)有的對LED結(jié)溫的測試一般有兩種方法：一種是采用紅外測溫法測得LED芯片表面的溫度并視其為LED的結(jié)溫，但是準(zhǔn)確度不夠；另一種是通過溫度敏感參數(shù)（temperature-sensitive parameter，簡寫為TSP）獲取PN結(jié)溫，這是目前較普遍的LED結(jié)溫測試方法，其技術(shù)難點(diǎn)在于對測試設(shè)備要求較高。

　　LED的壽命主要表現(xiàn)為它的光衰，通常把LED光輸出衰減到初始光輸出的70%或50%作為判斷壽命失效的指標(biāo)，即光通量維持壽命。但由于LED是高可靠性器件，壽命一般都會超過幾千小時甚至是一萬多小時，直接測量等待光衰到指定值的做法在工業(yè)上的應(yīng)用十分困難。

　　2　LED熱學(xué)特性測試

　　2.1 LED結(jié)溫和熱阻的測量

　　美國EIA/JESD51 《Methodology for the Thermal Measurement of Component Packages 》系列標(biāo)準(zhǔn)和國家標(biāo)準(zhǔn)SJ20788-2000 《半導(dǎo)體二極管熱阻抗測試方法》、GB/T4023-1997《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電流 第2部分：整流二極管》、QB/T 4057-2010《普通照明用發(fā)光二極管 性能要求》等國際國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)都較為詳細(xì)地介紹了通過溫度敏感參數(shù)TSP測量結(jié)溫和熱阻的方法。對于LED，TSP為PN結(jié)兩端的正向電壓。在確定電流下，LED的正向偏壓與結(jié)溫之間近似成反比關(guān)系，由此可得到結(jié)溫的變化為：

LED結(jié)溫測量的時序如圖1所示：

 
1）首先對LED正向施加測試電流IM，測量正向結(jié)電壓VFI； 
2）用加熱電流IH取代IM加到待測LED兩端，加熱一定時間（tH）待LED達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)，測量所測

　　LED散熱通道上的熱耗散功率（PH）； 
3） 再用IM迅速取代IH加到待測LED兩端，并測得正向結(jié)壓降（VFF）； 
4） 計算LED的結(jié)溫和熱阻：
 

　　式（3）中， 為初始溫度，式（4）中 為散熱通道上指定點(diǎn)的溫度，例如，環(huán)境溫度或外殼溫度。對于LED，輸入的電功率一部分用于LED發(fā)光，另一部分產(chǎn)生熱量，而熱耗散功率PH往往很難從總輸入電功率中區(qū)分出來，因此為方便和簡化測量，QB/T 4057-2010提出了“參考熱阻”的概念，即使用輸入總功率替代式（4）中的熱耗散功率。 “參考熱阻”由于測量方便，復(fù)現(xiàn)性好，得到了越來越多的應(yīng)用。

　　在加熱電流IH 作用下，監(jiān)視LED的結(jié)溫上升過程，獲取加熱曲線也很有意義，圖2所示為典型的加熱曲線，它不僅能夠判斷LED是否達(dá)到熱平衡，而且對于LED的結(jié)構(gòu)和散熱能力分析有具有參考作用。 

　　獲取加熱曲線的技術(shù)難點(diǎn)在于測試電流與加熱電流切換時間必須要足夠短，并且瞬態(tài)數(shù)據(jù)的采集必須非常迅速。切換時間和數(shù)據(jù)采集時間一般要達(dá)到幾到十幾微秒，否則不能反映出LED結(jié)溫的實際變化過程，導(dǎo)致最終測試出的熱阻被大幅低估。