光電探測(cè)器，雖然歷史悠久，但其技術(shù)發(fā)展卻始終保持著旺盛的生命力。其基本原理看似簡(jiǎn)單，但要將性能做到極致，將噪聲降至最低，將放大做到更加線性，卻需要無(wú)數(shù)次的試驗(yàn)和探索，凝聚著無(wú)數(shù)科研人員的智慧和汗水。

光電探測(cè)器的性能提升，往往取決于設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)的精益求精。從光電材料的選取，到器件結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)，再到制造工藝的優(yōu)化，每一個(gè)細(xì)節(jié)都影響著光電探測(cè)器的最終性能。例如，光電材料的選擇決定了探測(cè)器的響應(yīng)范圍和靈敏度；器件結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)影響著光信號(hào)的收集效率和噪聲水平；制造工藝的優(yōu)化則影響著器件的一致性和穩(wěn)定性。

長(zhǎng)期以來(lái)，國(guó)外品牌的光電探測(cè)器在我國(guó)市場(chǎng)占據(jù)主導(dǎo)地位，國(guó)產(chǎn)產(chǎn)品雖然偶有出現(xiàn)，但始終未能形成品牌化、規(guī)模化，也無(wú)法替代進(jìn)口產(chǎn)品。究其原因，主要可以歸結(jié)為以下幾點(diǎn)：

1：指標(biāo)參數(shù)不清，性能參差不齊

• 部分國(guó)產(chǎn)光電探測(cè)器產(chǎn)品特性參數(shù)描述不夠清晰，缺乏定量數(shù)據(jù)，難以進(jìn)行性能評(píng)估和比較。

• 產(chǎn)品性能穩(wěn)定性不足，不同批次產(chǎn)品之間性能差異較大，難以滿足用戶對(duì)產(chǎn)品一致性的要求。

2：功能與接口混亂，兼容性差

• 國(guó)產(chǎn)光電探測(cè)器產(chǎn)品功能、接口、尺寸、外形等設(shè)計(jì)缺乏統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)，導(dǎo)致產(chǎn)品之間兼容性差，難以進(jìn)行系統(tǒng)集成和擴(kuò)展。

• 用戶在跨系統(tǒng)移植和擴(kuò)展時(shí)，需要花費(fèi)大量時(shí)間和精力進(jìn)行適配，增加了使用成本和難度。

3：產(chǎn)品不成體系，無(wú)法滿足多樣化需求

• 部分國(guó)產(chǎn)光電探測(cè)器產(chǎn)品種類(lèi)單一，難以滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景和系統(tǒng)功能的需求。

• 面對(duì)復(fù)雜的光學(xué)平臺(tái)和系統(tǒng)，用戶難以找到合適的國(guó)產(chǎn)光電探測(cè)器產(chǎn)品，形成產(chǎn)品選擇的盲區(qū)。

4：賽道狹窄，發(fā)展動(dòng)力不足

• 光電探測(cè)器市場(chǎng)規(guī)模相對(duì)較小，發(fā)展前景不如一些熱門(mén)行業(yè)，導(dǎo)致部分企業(yè)缺乏投入研發(fā)的動(dòng)力。

• 研發(fā)投入不足，限制了國(guó)產(chǎn)光電探測(cè)器產(chǎn)品性能的提升和功能的完善。

       然而，光電探測(cè)器的全國(guó)產(chǎn)化意味著自主研發(fā)和技術(shù)創(chuàng)新，這有助于提升國(guó)內(nèi)企業(yè)在高端光電探測(cè)器技術(shù)領(lǐng)域的核心競(jìng)爭(zhēng)力。并且可減少對(duì)外部市場(chǎng)的依賴，特別是在國(guó)際政治經(jīng)濟(jì)環(huán)境變化多端的情況下，保障國(guó)內(nèi)產(chǎn)業(yè)鏈的穩(wěn)定和安全。因此，光電探測(cè)器的全國(guó)產(chǎn)化對(duì)于國(guó)家的科技進(jìn)步、產(chǎn)業(yè)升級(jí)、經(jīng)濟(jì)安全以及國(guó)際競(jìng)爭(zhēng)力提升都具有重要的戰(zhàn)略意義。

針對(duì)國(guó)產(chǎn)光電探測(cè)器市場(chǎng)的關(guān)鍵需求，憑借我們?cè)诠怆姕y(cè)量領(lǐng)域積累的豐富經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間精心研究和精細(xì)打造，我們從電路設(shè)計(jì)、功能優(yōu)化、增益/帶寬的精確標(biāo)定、機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)等多方面進(jìn)行全面攻堅(jiān)，最終推出了性能統(tǒng)一、接口統(tǒng)一、工況統(tǒng)一、完全由國(guó)產(chǎn)器件構(gòu)成的光電探測(cè)器系列產(chǎn)品。

例如，我們所研發(fā)的PDA-S-C1放大型可調(diào)增益硅探測(cè)器，由硅(Si)光電二極管+可調(diào)增益放大器集成封裝而成，百分百器件全國(guó)產(chǎn)。光靈敏范圍從可見(jiàn)光到近紅外，典型光譜范圍覆蓋350nm~1100nm。該光電探測(cè)器內(nèi)置低噪聲跨阻放大器(TIA)，采用程控式8檔可調(diào)增益，定量化光電轉(zhuǎn)換。動(dòng)態(tài)范圍寬，適用于各種光電開(kāi)發(fā)場(chǎng)景，應(yīng)用廣泛。

硅探測(cè)器：PDA-S-C1-產(chǎn)品參數(shù)

銦鎵砷探測(cè)器：PDA-IGS-C1-產(chǎn)品參數(shù)

八檔程控式定量可調(diào)增益參數(shù)

硅探測(cè)器：PDA-S-C1-響應(yīng)曲線

銦鎵砷探測(cè)器：PDA-IGS-C1-響應(yīng)曲線

001檔位增益測(cè)試結(jié)果

011檔位增益測(cè)試結(jié)果

噪聲本底測(cè)試結(jié)果