如果真空紫外激光可以聚焦成一個(gè)小束點(diǎn)，將可用于研究介觀材料和結(jié)構(gòu)，并使制造納米物體具有更加的精度。

　　為了實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)，中國科學(xué)家發(fā)明了一種177納米的VUV激光系統(tǒng)，可以在長焦距處獲得亞微米焦點(diǎn)。該系統(tǒng)可以重新配置用于低成本的角度分辨光電發(fā)射光譜，并可能推動凝聚態(tài)物理研究。

　　在《光科學(xué)與應(yīng)用》(LightScience&Applications)發(fā)表的一項(xiàng)研究成果顯示，研究人員利用無球像差的帶板開發(fā)了一種177nmVUV激光掃描光電發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)，該系統(tǒng)在長焦距(——45mm)下具有<1μm的焦斑。

　　基于這種顯微鏡，他們還建立了一個(gè)離軸熒光檢測平臺，在揭示材料的細(xì)微特征方面表現(xiàn)出優(yōu)于傳統(tǒng)激光系統(tǒng)的能力。

　　與目前用于ARPES的具有空間分辨率的DUV激光源相比，177nmVUV激光源可以幫助ARPES測量覆蓋更大的動量空間，具有更好的能量分辨率。

　　該VUV激光系統(tǒng)具有超長焦距(——45mm)、亞微米空間分辨率(——760nm)、超高能量分辨率(——0.3meV)和超高亮度(——355MWm-2)?？芍苯討?yīng)用于光電發(fā)射電子顯微鏡(PEEM)、角度分辨光電子能譜儀(ARPES)、深紫外激光拉曼能譜儀等科研儀器。

　　目前，該系統(tǒng)已與上海理工大學(xué)的ARPES連接，揭示了各種新型量子材料的精細(xì)能帶特征，如準(zhǔn)一維拓?fù)涑瑢?dǎo)體TaSe3、磁性拓?fù)浣^緣體(MnBi2Te4)(Bi2Te3)m族等。