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中圖儀器SJ6000激光干涉儀
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探索“激光干涉儀”的發(fā)展史
發(fā)布時間:2015-12-28        瀏覽次數(shù):247        返回列表
 現(xiàn)代激光干涉技術是在人類關于光學的幾乎全部知識的基礎上發(fā)展起來的。激光與普通光源相比,具有一些獨特的性質(zhì):單色性好、相干性好、方向性強、亮度高。激光干涉儀是以激光波長為已知長度,利用邁克爾遜干涉系統(tǒng)測量位移的通用長度測量,廣泛應用于各領域,已經(jīng)成為人類認知世界的重要工具。

1604年開普勒(J.Kepler)寫出光學著作,指出光的強度和到達光源距離的平方成反比。并于1611年出版《折射光學》。

1801年托馬斯•楊(Thomas Young)用雙狹縫實驗演示了光的干涉現(xiàn)象,即著名的楊氏雙縫實驗。

1881年邁克爾遜(Albert.A.Michelson)設計了著名的實驗來測量“以太”漂移。當然沒測到漂移,由此導致“以太”說的破滅和相對論的誕生。它首次用于干涉儀,以鎘紅譜線與國際米原器作對比。正是由于他的工作導致后來用光的波長定義“米”。由于他在精密光學儀器、光譜和計量領域的研究工作于1907年獲得諾貝爾獎。

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邁克爾遜激光干涉儀原理圖

1960年Maiman研制成功第一臺紅寶石激光器,從此開始了光學技術飛速發(fā)展的新時代。從此,激光干涉測量被廣泛地用于長度、角度、微觀形貌、轉(zhuǎn)速、光譜等領域,并和微電子技術、計算機技術集成,成為現(xiàn)代干涉儀。

1982年G.Binning和H.Rohrer研制成功掃描隧道顯微鏡,1986年發(fā)明原子力顯微鏡,1986年獲得諾貝爾獎。從此開始了干涉儀向納米、亞納米分辨率和精度前進的新時代。

由于激光具有極好的時間相干性,自問世以來,已研制出多種激光干涉儀:單頻激光干涉儀、雙頻激光干涉儀、半導體激光干涉儀、法布里-珀羅(F-P)干涉儀、X射線干涉儀等。

激光干涉儀是激光在計量領域中最成功的應用之一。利用光的干涉實現(xiàn)測量,具有非接觸、無損檢測的特點,已經(jīng)在各個不同領域得到廣泛的應用。

檢測機床
激光干涉儀機床檢測應用

中圖儀器近期推出的 SJ6000激光干涉儀 采用進口高穩(wěn)頻氦氖激光器、雙縱模熱穩(wěn)頻技術、多參數(shù)環(huán)境補償技術、高速數(shù)字信號處理系統(tǒng)等技術,通過與不同的光學組件結(jié)合,實現(xiàn)對線性、角度、直線度、垂直度、平面度等幾何量的檢測。線性測長精度:±0.5ppm,激光穩(wěn)頻精度:0.05ppm。

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